测量射频设备噪声系数的三种方法

  • 来源:海马硬件
  • 时间:2023-08-31 01:40:56

在现代无线通信系统中,噪声系数是评估射频接收机性能的重要参数之一。本文将深入探讨噪声系数的概念、测量方法以及不同应用场景下的适用性,以帮助读者更好地理解和应用这一关键参数。 01噪声系数与噪声因子

在衡量射频接收机性能时,噪声系数(NF)、噪声因子(F)和等效噪声温度等参数起到关键作用。噪声系数越低,性能越佳。系统设计人员常致力于在信噪比(SNR)最优的条件下优化系统。噪声系数(NF)与噪声因子(F)之间的关系简洁而明了。

放大器为例,放大器输出信号的噪声功率相对于输入信号的噪声功率,与放大器增益有关。一般来说,输出端口的信噪比会比输入端口低,即噪声因子F要大于1,或者噪声系数NF大于0 dB。当放大器噪声系数小于1 dB时,可以用等效噪声温度Te来描述其性能


(资料图片仅供参考)

噪声系数与噪声温度关系

02噪声来源

1)热噪声(白噪声):是宇宙中一切物质的随机运动所产生的,它在任何电子设备中均存在。热噪声的产生与布朗运动相关,其噪声功率可以用数学公式表示。

其中波尔兹曼常数k、温度T和噪声带宽ΔF是关键参数。电子元件的热噪声会呈现出电压和电流的随机波动,统计分布接近高斯分布。

2)散粒噪声:是由离散的电子组成的电流产生的,每个电子携带固定的电荷。电流并不是连续的,而是由单个电子到达的时间上的变化所引起的,称为散粒噪声。散粒噪声的噪声功率与电流成正比,其有效电流均值可用简洁的公式表示。

3)1/f噪声:也称为闪烁噪声,是一种随频率呈现递减趋势的噪声。它在多种系统中都能观察到,变化趋势近似于1/f。这种噪声通常出现在低频范围,随着频率增加,噪声幅度减小

下图显示了在290K温度下,从频率为1Hz到100000GHz的电子元件噪声的功率谱密度。低频显示1/f噪声,在其功率谱密度占主导地位。非常高的频率包括量子效应。在大多数电子设备工作的频率上,噪声一般是平坦的白噪声。

4)互调失真噪声:在射频电路中,当不同频率的信号通过非线性元件(如放大器)时,它们之间可能会相互干扰,导致互调失真。这会在输出中产生新的频率成分,引入额外的噪声。 5)杂散响应噪声:当射频系统中的信号受到非线性元件(如混频器)的影响时,可能会在频谱中产生不期望的附加频率成分,导致杂散响应噪声。 此外,阻抗不连续也会引起噪声系数增加或降低,当信号在阻抗不连续处反射或散射时,会引入附加的噪声。这些附加的噪声会叠加到原始信号中,使噪声系数产生变化。

03级联噪声系数计算

在多级级联时,级联的增益会影响噪声系数的计算:

对于负增益的DUT的噪声系数通常等于其衰减量值,即 G1=1/F1,级联的噪声系数大于级噪声系数:

级联的等效噪声温度为:

在级联网络中,系统的总噪声系数主要取决于第一级的噪声系数,因为后面的网络对系统影响逐渐减小。 04噪声测试方法介绍

噪声系数仪法:噪声系数仪/分析仪的使用示例如下图所示。

测量过程如下: 1)噪声源(Noise Source)产生噪声信号,通过电源供电压。 2)噪声信号驱动被测设备(DUT)。 3)分析仪测量DUT输出信号的噪声功率密度和信号功率。 4)噪声系数仪内部计算出噪声系数,同时显示系统增益。

然而,该方法有一些局限,如频率范围限制和高噪声系数下的测量不准确性。并且这种方法需要非常昂贵的设备。

增益法:增益法在某些条件下,更方便且更准确,其基于前面给出的噪声因子定义:

在这个定义中,噪声由两种方面产生:第一种是以信号的形式传入射频系统输入的干扰,这些干扰信号与所需信号不同;第二种是由射频系统中载波的随机波动产生。如下图所示。

在室温(290ΔK)下,噪声功率密度为

代入噪声系数公式,可以得到:

其中,PNOUT是测得的总输出噪声功率,BW是目标频率带宽,Gain是系统增益,NF是DUT的噪声系数。我们可以直接测量输出噪声功率密度(以dBm/Hz为单位),公式变为:

要使用“增益法”测量噪声系数,需要预先确定DUT的增益。然后,将DUT的输入端接特征阻抗线(大多数射频应用为50Ω,视频/电缆应用为75Ω)。然后,使用频谱分析仪测量输出噪声功率密度。 增益法的连接关系如下图所示:

假设测得增益为80dB,读取输出噪声密度为-90dBm/Hz,为了获得稳定准确的噪声密度读数,RBW(分辨带宽)和VBW(视频带宽)的最佳比例为RBW/VBW = 0.3。可以计算出NF为: -90dBm/Hz + 174dBm/Hz - 80dB = 4.0dB。

“增益法”可以覆盖频谱仪可以测得的任何频率范围。最大的限制为来自频谱分析仪的噪声基底。当噪声系数很低(小于10dB时),(POUTD - Gain)接近于-170dBm/Hz。正常的LNA增益约为20dB,这样我们需要测量-150dBm/Hz的噪声功率谱密度,这个值低于大多数频谱仪的噪声基底。当系统增益非常高,大多数频谱分析仪可以准确测量噪声系数。同样,如果DUT的噪声系数非常高(例如超过30dB),这种方法也可以非常准确。

Y因数法:Y因数法是测量噪声系数的另一种常见方法。使用Y因数法时,需要使用超噪比(ENR)噪声源,其连接关系如下图所示:

ENR源通常需要高DC电压供电。这些ENR源能够工作在很宽的频段,并且在指定频率下具有标准噪声系数参数。对于小增益甚至负增益的DUT,且噪声系数大于20dB时,需要噪声源的ENR远大于标准噪声源。

如上图所示,通过打开和关闭噪声源,可以使用频谱分析仪测量输出噪声功率密度的变化。计算噪声系数的公式为:

其中,ENR是噪声源输出噪声系数值。Y是输出噪声功率谱密度在噪声源开启和关闭时的差值。 假设通过关闭然后重新打开DC电源,噪声密度从-90dBm/Hz增加到-87dBm/Hz,Y = 3dB。ENR = 5.28dB。可以计算出NF为5.3dB。 总结三种测试方式差异如下图所示:

05总结噪声在电子系统中普遍存在,尤其在射频和微波接收器中具有重要影响。了解噪声及其测量、建模和解释对系统的影响至关重要。本文介绍了测量射频设备噪声系数的三种方法,每种方法在特定应用中具有一定优势。

审核编辑:彭菁

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